본 기술은 전극 조립체 내부 또는 외장재 안쪽에 고체, 액체, 기체 형태의 결함 인자를 담은 캡슐을 배치하고, 압력, 온도, 자기장, 전자파, X선 같은 외부 물리적 자극으로 캡슐을 열어 전지 내부 결함을 인위적이고 정밀하게 유도하여 분석하는 기술입니다.
기존 전지 결함 유발 장치는 열폭주 현상만 관찰할 수 있거나 전지에 물리적 손상과 변형을 가해야 했습니다. 이 때문에 결함 발생 이후의 내부 현상을 직접적이고 정밀하게 분석하기 어렵다는 한계가 존재했습니다.
본 기술은 물리적 자극에 의해 열리는 캡슐을 전극 조립체의 타공부나 외장재 내부 잉여 공간에 넣어 두고, 열화 입자, 고농도 첨가제, 난연제, 가스 등 다양한 결함 인자를 원하는 시점과 위치에서 방출하여 전지 변형 없이 결함에 따른 전기화학적 거동과 구조 변화를 정량 분석하도록 구성됩니다. 셀 제조사의 안전성 인증 시험, 전해액 첨가제 및 소화제 효과 검증, 배터리 고장 원인 분석 연구 등에 적용될 수 있어 재현성 있는 결함 시나리오를 설계해 셀 설계 단계에서부터 취약 요소를 미리 걸러낼 수 있습니다.
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