본 기술은 대상 물체에 라인 줄무늬 광을 영사하고 캡쳐한 영상에서 카메라 공간 좌표별 위상과 진폭을 추출한 뒤, 이산 푸리에 변환을 적용한 위상을 삼각측량에 이용해 3차원 좌표를 재형성하는 라인 구조광 패턴 디코딩 방법입니다.
레이저 줄무늬 스캐닝과 같은 라인 구조광 방식은 각 프레임에서 줄무늬의 피크값을 공간적으로 검출하는 데 의존해 왔습니다. 그러나 물체 형상이 복잡하거나 장치 배치에 따라 한 행이나 열에 둘 이상의 피크가 나타나는 불명료 문제가 생기면, 단일 피크 가정에 기반한 기존 방법으로는 정확한 검출이 어려웠습니다.
본 기술은 각 픽셀에 시간축 방향의 푸리에 해석을 적용해 카메라와 프로젝터 간 대응 관계를 위상으로 구하므로, 복잡한 2차원 영상 처리 없이 픽셀 단위 연산만으로 줄무늬 불명료 문제를 해소합니다. 진폭이 일정 값 이상인 픽셀만 사용하고 다중주파수 위상 언래핑을 더해 서브픽셀 수준의 정밀도를 확보합니다. 산업용 3차원 검사 장비, 역설계용 형상 스캐너, 품질 측정 시스템 등에 적용될 수 있어 복잡한 굴곡을 가진 부품도 오검출 없이 정밀하게 측정할 수 있습니다.
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